高溫探針臺(tái)測(cè)試儀測(cè)試儀廣泛的應(yīng)用于液態(tài)晶體、材料、聚合物、高分子及納米材料學(xué)、纖維、地質(zhì)、半導(dǎo)體,微機(jī)電系統(tǒng)、X-射線、流變、冷凍干燥、細(xì)胞生物學(xué)、生物學(xué)、生物物理學(xué)、生物化學(xué)、冶金學(xué)、光催化、食品科學(xué)、制劑等各種研究領(lǐng)域。高溫加熱臺(tái)還可以與光學(xué)顯微鏡（大多是偏光顯微鏡)共聚焦顯微鏡、激光拉曼、傅里葉變換紅外儀、X射線等儀器配合使用。

Name: 高溫探針臺(tái)測(cè)試儀HP24
Brand: Jmant/江麥
Price: 68000 CNY
Availability: InStock

產(chǎn)品型號(hào)：HP24

更新時(shí)間：2026-07-07

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

訪問(wèn)量：695

服務(wù)熱線

0755-22275795

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

探針臺(tái)/冷熱臺(tái)測(cè)試儀系列

真空探針臺(tái) 冷熱探針臺(tái) 高溫探針臺(tái)

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產(chǎn)品介紹

特點(diǎn)：

★ 升溫速度可精確控制，精度達(dá)±0.25℃

★ 體積小巧，占地空間小

★ 真空漏率優(yōu)秀，真空度高

★ 探針?lè)N類豐富，可根據(jù)用戶需求進(jìn)行定制

★ 模塊化設(shè)計(jì)，可根據(jù)客戶要求定制

★ 超高溫，升溫速度快

用途：

高溫探針臺(tái)測(cè)試儀用于芯片、氣敏元器件等在不同氣氛環(huán)境下電學(xué)性能，也可用于材料分析。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體電學(xué)性能測(cè)試、物理研究、氣敏分析、鋰電池測(cè)試、LED、LCD、二維材料測(cè)試、電鏡掃描、太陽(yáng)能電池等行業(yè)的制造和研究領(lǐng)等系統(tǒng)中的重要部件。

高溫探針臺(tái)測(cè)試儀產(chǎn)品規(guī)格參數(shù)：

項(xiàng)目	訂貨代碼	HP24-4	HP24-6
主體	HP24-4 （4探針）	腔體材質(zhì)： SUS304(可定制AL6061腔體) 密封方式：氟膠圈抽氣口:KF25 電信采集接口：標(biāo)配BNC接口腔體進(jìn)氣口：6mm(特殊可定制) 腔體外尺寸：220mm×150mm×72mm 樣品臺(tái)尺寸：φ20mm 樣品觀察窗：45mm
	HP24-6 （6探針）
探針組件（單組價(jià)格）	V2	真空型同軸接口探針夾具（普通型，需要抽真空時(shí)選擇）
	V3	真空型三軸接口探針夾具（抗干擾性強(qiáng)，應(yīng)用于半導(dǎo)體，需要抽真空時(shí)選擇）
探針規(guī)格	000T	鍍金，50μm(可選：1μm、5μm、10μm、20μm、50μm、100μm、200μm) 例：010T代表10μm尺寸的探針。

信號(hào)線纜	R1	單頭甩空線
	R2	雙頭線
水冷機(jī)	W	溫度高于200℃范圍需要配置水冷機(jī)
高溫控制系統(tǒng)	H	高溫控制器:常溫～1000℃，控制精度±0.25℃，分辨率0.1℃
真空系統(tǒng)	MP	機(jī)械泵（飛躍）:2.2L/S(真空度1*10-1Pa)（不包含真空計(jì)）
	TP	分子泵組（Leybold）:90L/S(真空度510-5Pa) 復(fù)合真空計(jì)（Leybold ):PTR90(大氣至510-7Pa)主體需要采用不銹鋼材質(zhì)，才能抽到高真空

顯微鏡	PM	體式顯微鏡:ZOOM645S（環(huán)形光源）
	CM	CCD：200萬(wàn)像素
	DP	戴爾顯示器：21寸
	SJ	視頻顯微鏡+10寸顯示屏（100萬(wàn)像素）
光催化氙燈光源	XL	CEL-PF300-T6(20個(gè)太陽(yáng)光)